Nanopartikel werden in verschiedenen Bereichen wie der Arzneimittelabgabe, der Bildgebung und der Materialwissenschaft häufig eingesetzt. Beschichtungen auf der Oberfläche von Nanopartikeln können deren Eigenschaften und Leistungen beeinträchtigen. Daher ist es wichtig, die Dicke von Beschichtungen zu messen, um deren Auswirkungen auf Nanopartikel zu verstehen. In diesem Blogbeitrag stellen wir verschiedene Methoden zur Messung der Dicke von Beschichtungen auf Nanopartikeln vor.
1. Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
TEM ist eine leistungsstarke Bildgebungstechnik, die hochauflösende Bilder von Nanopartikeln liefern kann. Es kann auch verwendet werden, um die Dicke von Beschichtungen auf Nanopartikeln zu messen. Bei der TEM wird ein Elektronenstrahl durch die Probe geleitet und die Wechselwirkung zwischen den Elektronen und der Probe kann zur Erstellung eines Bildes genutzt werden. Durch den Einsatz von TEM kann der Kontrast zwischen Beschichtungen und Nanopartikeln genutzt werden, um die Dicke der Beschichtungen zu messen.
2. Rasterkraftmikroskopie (AFM)
AFM ist ein weiteres bildgebendes Verfahren, mit dem sich die Dicke von Beschichtungen auf Nanopartikeln messen lässt. Dabei wird die Oberfläche der Probe mit einer winzigen Sonde abgetastet. Die Sonde kann die Höhe der Probe mit hoher Präzision messen und daraus die Dicke von Beschichtungen auf Nanopartikeln berechnen. AFM kann hochauflösende Bilder liefern und eignet sich zur Messung der Dicke von Beschichtungen auf einem einzelnen Nanopartikel.
3. Ultraviolett-sichtbare (UV-Vis) Spektroskopie
UV-Vis-Spektroskopie ist eine Technik, mit der sich die Dicke von Beschichtungen auf einer großen Anzahl von Nanopartikeln gleichzeitig messen lässt. Dabei werden die Absorptionsspektren von Nanopartikeln in Lösung gemessen. Beschichtungen auf den Nanopartikeln können die Absorptionsspektren beeinflussen, und die Dicke der Beschichtungen kann anhand des Ausmaßes der spektralen Verschiebung berechnet werden. UV-Vis-Spektroskopie ist eine schnelle und einfache Methode zur Messung der Dicke von Beschichtungen auf Nanopartikeln.
4. Quarzkristall-Mikrowaage (QCM)
QCM ist eine hochempfindliche Technik, mit der sich die Masse von Nanopartikeln messen lässt. Durch die Messung der Massenänderung von Nanopartikeln mit und ohne Beschichtung kann die Dicke von Beschichtungen berechnet werden. QCM kann die Dicke von Beschichtungen in Echtzeit überwachen und eignet sich zur Untersuchung der Stabilität und Kinetik von Beschichtungen auf Nanopartikeln.
Zusammenfassend lässt sich sagen, dass es mehrere Methoden zur Messung der Dicke von Beschichtungen auf Nanopartikeln gibt, jede mit ihren Vor- und Nachteilen. Die Wahl der Methode hängt von den spezifischen Anforderungen der Anwendung ab. Durch das Verständnis der Dicke von Beschichtungen auf Nanopartikeln können wir deren Eigenschaften und Funktionen für verschiedene Anwendungen entwerfen und optimieren.
